Dentaire · Médical · Industriel

Ultra-Fast
Scanning Sensor

Capteur à balayage à conversion directe ultra-rapide pour une imagerie par rayons X à haute vitesse et haute sensibilité.

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Ultra-Fast Scanning Sensor – vue détaillée de la carte électronique

Présentation

Un seul capteur.
De multiples applications.

UFS associe un détecteur CdTe à une lecture CMOS pour l’imagerie X linéaire. Gigabit Ethernet relie le détecteur au système hôte ; le logiciel Athlos facilite l’évaluation et l’intégration.

Scanner Athlos UFS – vue produit sur fond blanc

Conversion directe

Les rayons X sont convertis en signal électrique dans le détecteur CdTe, sans scintillateur intermédiaire.

Une plateforme pour les OEM

Définissez la configuration du détecteur, son intégration mécanique et les besoins d’acquisition de votre système.

Logiciel d’évaluation

Le SDK Athlos comprend une API, de la documentation, des exemples et une interface graphique d’évaluation.

Qualité d'image

Images d'exemple.

Radiographie panoramique Ultra-Fast Scanning Sensor 1
Radiographie panoramique Ultra-Fast Scanning Sensor 2
Radiographie céphalométrique Ultra-Fast Scanning Sensor 1
Radiographie céphalométrique Ultra-Fast Scanning Sensor 2

Préparer une évaluation

Commencez par l’image dont vous avez besoin.

Décrivez votre besoin d’imagerie et indiquez comment vous contacter. Les détails de l’application sont facultatifs ; le nom, l’adresse e-mail et le message sont nécessaires pour envoyer la demande.

  1. Définir la tâche

    Décrivez l’objet, le détail à inspecter et la source X disponible. Précisez la couverture, la vitesse et l’environnement.

  2. Convenir de l’évaluation

    Discutez de la configuration, des images d’exemple, de l’accès logiciel et des critères de qualité pour votre application.

  3. Préparer l’intégration

    Confirmez le montage, la plateforme hôte, les connexions et le processus d’acquisition avec Athlos.